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SPOTLIGHT 200i

O Sistema de Microscopia FT-IR Spotlight 200i foi projetado com tecnologia de ponta para permitir automação inteligente e recursos sofisticados de análise. O sistema utiliza um detector de ponto único de alto desempenho para oferecer a melhor sensibilidade, enquanto a iluminação LED de luz branca fornece imagens visíveis superiores. Além disso, o Spotlight 200i também tem a capacidade de ser totalmente atualizado para o Spotlight 400 Imaging System.

Características

"Produção espectral de alta qualidade a partir de áreas de amostra com limites de difração tão baixos quanto 10 mícrons; Descoberta de região de interesse (ROI) para permitir a facilidade de análise de várias partículas e camadas de uma só vez; Capacidade de operação nos modos de transmissão, refletância e micro - ATR automatizado para máxima flexibilidade de amostragem; Configurabilidade para ser usado com FT-IR de médio IR, IR próximo ou de alcance duplo com os sistemas Spectrum 3™ ou Spectrum TWO™ para fornecer o máximo de informações das amostras no menor tempo possível. O sistema de microscopia FT-IR Spotlight 200i pode ser configurado para atender às suas demandas de microscopia FT-IR e produzir espectros de alta qualidade a partir de amostras extremamente pequenas. Consulte a tabela Configurações abaixo para obter as opções padrão. "